تعداد ۲ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۸۸ ثانیه یافت شد.

1. Mitigation of Thermally Induced Soft Errors in CMOS Nanoscale Circuits

پدیدآورنده: Md. Sofikul Islam

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Electrical engineering,Applied sciences;CMOS circuits;Parallel circuit technique;SET effects;Thermal effect

2. Silicon Nanowire Based Field Ionization Devices

پدیدآورنده: Kazim Gurkan Polat

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Electrical engineering; Physics,Pure sciences;Applied sciences;Device;Field ionization;Nanowire;Semiconductor;Silicon

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است